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首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 密封性試驗(yàn)儀 > 包裝密封性能試驗(yàn)儀 > LEAK-S1YY/T 0681.18真空衰減法無(wú)損密封測(cè)試儀

YY/T 0681.18真空衰減法無(wú)損密封測(cè)試儀

簡(jiǎn)要描述:YY/T 0681.18真空衰減法無(wú)損密封測(cè)試儀適用于食品、制藥、醫(yī)療器械、電子元器件等行業(yè)的瓶、管、罐、盒、袋等產(chǎn)品的無(wú)損密封試驗(yàn)及包裝完整性驗(yàn)證,以及安瓿瓶、西林瓶等試樣的微小漏孔及泄漏量的無(wú)損密封性檢測(cè)。YY/T0681.18部分規(guī)定了用真空衰減法無(wú)損檢驗(yàn)包裝系統(tǒng)泄漏的測(cè)試方法。

  • 產(chǎn)品型號(hào):LEAK-S1
  • 廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
  • 更新時(shí)間:2024-08-03
  • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:1207

詳細(xì)介紹

品牌其他品牌價(jià)格區(qū)間10萬(wàn)-50萬(wàn)
產(chǎn)地類(lèi)別國(guó)產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,食品,生物產(chǎn)業(yè),印刷包裝,制藥

YY/T 0681.18真空衰減法無(wú)損密封測(cè)試儀測(cè)試原理

主機(jī)連接一個(gè)真空衰減腔,將試樣放入此測(cè)試腔內(nèi)抽真空,試樣內(nèi)外有壓差,氣體通過(guò)漏孔進(jìn)入真空衰減腔和主機(jī),主機(jī)利用壓力傳感器和差壓傳感器監(jiān)測(cè)測(cè)試腔內(nèi)的真空度變化,通過(guò)真空度變化量來(lái)判斷試樣是否合格及樣品最小泄漏量。

產(chǎn)品特征

  • 雙壓法測(cè)試原理,對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行無(wú)損檢測(cè),測(cè)試結(jié)果重復(fù)性好,測(cè)試結(jié)束后自動(dòng)判定試驗(yàn)結(jié)果

  • 高精度的壓力測(cè)試系統(tǒng),適用于檢測(cè)微小漏孔,也可以鑒別大漏孔樣品,并自動(dòng)判定合格與不合格的樣品

  • 采用氣動(dòng)元件,進(jìn)口雙壓力傳感器,性能穩(wěn)定可靠

  • 可預(yù)設(shè)多級(jí)真空,用于分析試樣的泄漏壓力及最小泄漏量

  • 多重試驗(yàn)?zāi)J?,多種產(chǎn)品測(cè)試模式,可儲(chǔ)存多種標(biāo)準(zhǔn)試樣種類(lèi)  

  • 大液晶觸摸屏顯示,一鍵化操作,操作界面簡(jiǎn)單直觀

  • 真空、測(cè)試和平衡時(shí)間可調(diào),并可存儲(chǔ)于數(shù)據(jù)庫(kù)中,保證測(cè)試條件的一致性

  • 試驗(yàn)曲線(xiàn)實(shí)時(shí)顯示,數(shù)據(jù)智能統(tǒng)計(jì),方便快速查看檢測(cè)結(jié)果

  • 具有數(shù)據(jù)自動(dòng)存儲(chǔ)、歷史數(shù)據(jù)可進(jìn)行快速查看并打印

  • 可測(cè)試微米級(jí)漏孔的泄漏性能,數(shù)據(jù)結(jié)果具有可溯源性

  • 配備微型打印機(jī)和USB通用數(shù)據(jù)接口,方便數(shù)據(jù)輸出和傳遞

  • 配有GMP權(quán)限管理系統(tǒng),具備用戶(hù)管理、數(shù)據(jù)審計(jì)追蹤等功能

參照標(biāo)準(zhǔn)ASTMF2338、USP40-1207法規(guī)要求、YY/T0681.18無(wú)菌醫(yī)療器械包裝試驗(yàn)方法第18部分:用真空衰減法無(wú)損檢驗(yàn)包裝泄露。

YY/T 0681.18真空衰減法無(wú)損密封測(cè)試儀試驗(yàn)流程

采用無(wú)損性檢測(cè)方法,不破壞測(cè)試樣品,試驗(yàn)結(jié)果自動(dòng)判定,減少人為因素影響,可檢測(cè)大漏孔樣品,也可檢測(cè)微泄露樣品。

 將試樣放入測(cè)試腔體,根據(jù)設(shè)定的真空度對(duì)測(cè)試腔進(jìn)行抽真空。在“一定的時(shí)間內(nèi)"到達(dá)設(shè)定的真空度,則判斷試樣無(wú)大的泄露,反之則判斷不合格。

設(shè)定保壓時(shí)間、臨界值。在設(shè)定的保壓時(shí)間內(nèi)真空度降不到設(shè)定的臨界值,則判斷試樣無(wú)中等大小的漏孔,反之則判斷不合格。

設(shè)定測(cè)試時(shí)間。在測(cè)試時(shí)間內(nèi)真空衰減率小于試樣真空衰減率標(biāo)定值,則判斷試樣無(wú)對(duì)應(yīng)微米級(jí)以上漏孔,反之則判斷不合格。



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